Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction to TEM, SEM, and AEM / (رقم التسجيلة. 34773)

تفاصيل مارك
003 - محدد رقم الضبط
محدد رقم الضبط SA-RiNAUS
005 - تاريخ/وقت أخر معالجة
حقول الضبط 20241103175032.0
008 - عناصر البيانات ثابتة الطول
عناصر البيانات ثابتة الطول 160505s2016 xxu g 000 0 eng
020 ## - ردمك
ردمك 9783319398761
040 ## - مصدر الفهرسة
مصدر الفهرسة الأصلية SA-RiNAUS
رمز لغة الفهرسة ara
هيئة النسخ SA-RiNAUS
قواعد الوصف rda
082 04 - رقم تصنيف ديوي العشري
رقم تصنيف ديوي 502.82
اصدار خطة التصنيف 21
رقم المادة E R P
100 1# - المؤلف - اسم شخصي (مدخل رئيسي)
الاسم (اسم العائلة، الاسماء الاولى Egerton, R.F,
مصطلح مرتبط author.
245 00 - العنوان
العنوان الفعلي Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction to TEM, SEM, and AEM /
بيان المسئولية by R.F. Egerton.
250 ## - الطبعة
بيان الطبعة 2nd ed. 2016.
264 #1 - إنتاج، نشر، توزيع، طبع، حق النشر
مكان النشر New York, NY :
الناشر Springer Berlin Heidelberg,
تاريخ النشر 2016.
300 ## - الوصف المادي
التعداد 196 pages ;
اﻷبعاد 24 cm
505 0# - تبصرة محتويات
تبصرة المحتويات n Introduction to Microscopy -- Electron Optics -- The Transmission Electron Microscope -- TEM Specimens and Images -- The Scanning Electron Microscope -- Analytical Electron Microscopy -- Special Topics -- Appendix: Mathematical Derivations.
520 ## - تبصرة ملخص
تبصرة ملخص This popular textbook provides an introduction to the theory and practice of electron microscopy. The second edition has been updated to reflect the recent developments, including correction of lens aberrations in a TEM column and new material on environmental TEM and SEM. The text is linked to a new website that contains additional educational material such as sample exam questions and answers to selected problems. This edition also contains expanded reference lists that allow the reader to efficiently explore key topics in greater depth. Scanning and fixed-beam electron microscopes are an indispensable tool for both research and routine evaluation in the physical, biological and medical sciences, including specialized fields in materials science, nanotechnology and semiconductor processing. Physical Principles of Electron Microscopy, Second Edition, is ideal for students, researchers, and technologists who make use of electron microscopes but have only a limited knowledge of physics and mathematics. Undergraduate students will understand how basic principles of physics are utilized in this important area of applied science, while university teachers and researchers will find a concise but authoritative teaching, supplemental, or reference text covering the basic principles and practice of microscopy.
521 ## - تبصرة الجمهور
المستفيدون مقررات دراسية لطلاب الجامعة 2024.
650 #0 - رأس موضوع - مصطلح موضوعي
الموضوع Materials science.
الموضوع Nanotechnology.
الموضوع Microscopy.
الموضوع Spectroscopy.
942 ## - مداخل إضافية خاصة بكوها
مصدر خطة التصنيف أو الترفيف Dewey Decimal Classification
نوع المادة كتب
100 1# - المؤلف - اسم شخصي (مدخل رئيسي)
-- 43553
650 #0 - رأس موضوع - مصطلح موضوعي
-- 30446
-- 43554
المقتنيات
حالة اﻹلغاء مادة مفقودة مصدر خطة التصنيف أو الترفيف حالة التلف غير مسموح باﻹعارة موقع غير دائم الموقع الحالي موقع الترفيف تاريخ التزويد مصدر التزويد سعر الشراء رقم الطلب بالكامل رقم النسخة آخر تاريخ للعرض رقم النسخة سعر اﻹستبدال السعر فعال من تاريخ نوع المادة في كوها
    Dewey Decimal Classification   Not For Loan المكتبة الأمنية المكتبة الأمنية القاعة الرئيسية 27/10/2024 شراء 820.00 502.82 E R P 010064120 27/10/2024 1 2380.00 27/10/2024 كتب
    Dewey Decimal Classification     المكتبة الأمنية المكتبة الأمنية القاعة الرئيسية 27/10/2024 شراء 820.00 502.82 E R P 010064121 27/10/2024 2 2380.00 27/10/2024 كتب
    Dewey Decimal Classification     المكتبة الأمنية المكتبة الأمنية القاعة الرئيسية 27/10/2024 شراء 820.00 502.82 E R P 010064122 27/10/2024 3 2380.00 27/10/2024 كتب